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日立大型掃描電鏡SU3900 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介日立高新推出新款大型掃描電子顯微鏡“SU3800"與“SU3900",支持超大/超重樣品測(cè)試,無(wú)需樣品切割
產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2025-06-22 參考價(jià): 面議 在線留言 -
日立中型掃描電鏡SU3800 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介該設(shè)備支持超大/超重樣品測(cè)試,能分別搭載直徑300mm、重量5kg的樣品,擁有大視野觀察功能,并具備自動(dòng)化功能以提高操作性能
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高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介SU3900/SU3800SE系列FE-SEM產(chǎn)品具備超高分辨率和觀察能力,突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品的樣品尺寸與重量限制
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日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU5000 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介日立公司推出新型肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡"SU5000",配備全新用戶界面和"EMWizard"軟件,簡(jiǎn)化了操作流程,無(wú)論用戶技能水平如何都能獲得高質(zhì)量...
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TM4000PlusIII/TM4000III臺(tái)式掃描電鏡 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介臺(tái)式顯微鏡因其設(shè)計(jì)緊湊、操作簡(jiǎn)便,自2005年起便在科研與工業(yè)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用
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日立熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介此次推出的SU7000掃描電鏡采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器系統(tǒng),在相同工作距離下提升了二次電子和背散射電子信號(hào)的檢測(cè)能力,并縮短了樣品觀察和分析時(shí)間
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日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU8600 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介FE-SEM因其高分辨率和豐富的信息,在納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用
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日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU8700 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介SU8700作為一款面向新時(shí)代的FE-SEM,繼承了日立電鏡一貫的高圖像質(zhì)量和高穩(wěn)定性,并新增了自動(dòng)獲取數(shù)據(jù)等高通量功能
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日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000II 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介日立高新推出的超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000專為電子束敏感樣品和需要300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)
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日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II 詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)介FlexSEM1000是一款體積小巧、操作簡(jiǎn)便且分辨率高的掃描電子顯微鏡,其體積比SU1510型號(hào)縮小52%,重量減輕45%,功耗減少50%
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